Giriş için tıklayınız.
Sitedeki kullanıcı sayısı: 29
X-Işınları  › X-Işını Floresans (XRF)
X-Işını Floresans (XRF)

 

Bruker marka S8 Tiger model dalgaboyu dağılımlı XRF ile tüm spektrum boyunca numunenizin taraması yapılır. Be-U arası tüm elementlerin ölçümü için gereken kristaller mevcuttur. H'in karakteristik X-Işını yayacak elektronu yoktur. Li' un karakteristik X-Işınının enerjisi ise çok düşüktür. Elementel, oksitli ve organik yapıdaki numuneleriniz ölçülür. Yarı-kantitatif kalibrasyona karakteristik X-Işını enerjisi düşük olan elementler (Be-F arası) dahil değildir. Sonuçlar kızdırma kaybı (LOI) ile beraber verilir. Numunenizin yapısına bağlı olarak Leco cihazı C ve S analizi ek ücret ile yapılır.  Numune tutucu 40 mm çapındadır. Okuması yapılan alan ise 34 mm çapındadır. Katı numunenin düşmeden yerleştirilebilmesi için 34-40 mm çapında olması gerekir. Toz, sıvı ve 34 mm den küçük şekilsiz numuneler X-Işını geçiren özel film içinde hazırlanarak ölçümü yapılır. Hassas sonuç için numunelerin yüzeyinin parlatılmış olması faydalıdır. Jeolojik numuneler için iki çeşit numune hazırlama mevcuttur.

Numunenizin %80' i 45 mikron altına geçecek şekilde bağlayıcı katkı maddesi ile öğütüldükten sonra basınçla sıkıştırılarak elde edilen pürüssüz yüzeyden okuması yapılır. Numune hazırlama ücrete dahildir.

Öğütülmüş ve kızdırma kaybı alınmış numuneniz Lityum tetraborate/metaborate ile Pt-Au kroze içinde füzyon yapılarak cam haline getirilir. Numune hazırlama ücrete dahil değildir.

 

 

 

Program

Kalibrasyon Aralığı

Yarı-Kantitatif :Na-U arası tüm elementlere ppm ve % mertebesine kalibrelidir.
Kantitatif Silikat Major :SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, CaO, Na2O, K2O, TiO2, P2O5, MnO, LOI 
Kantitatif Silikat İz :Kalibrasyon aralığı için ekli dosyaya bakınız.
 

  Belgeler   

Kantitatif - Silikat İz Element