 Bruker marka S8 Tiger model dalgaboyu dağılımlı XRF ile tüm spektrum boyunca numunenizin taraması yapılır. Be-U arası tüm elementlerin ölçümü için gereken kristaller mevcuttur. H'in karakteristik X-Işını yayacak elektronu yoktur. Li' un karakteristik X-Işınının enerjisi ise çok düşüktür. Elementel, oksitli ve organik yapıdaki numuneleriniz ölçülür. Yarı-kantitatif kalibrasyona karakteristik X-Işını enerjisi düşük olan elementler (Be-F arası) dahil değildir. Sonuçlar kızdırma kaybı (LOI) ile beraber verilir. Numunenizin yapısına bağlı olarak Leco cihazı C ve S analizi ek ücret ile yapılır. Numune tutucu 40 mm çapındadır. Okuması yapılan alan ise 34 mm çapındadır. Katı numunenin düşmeden yerleştirilebilmesi için 34-40 mm çapında olması gerekir. Toz, sıvı ve 34 mm den küçük şekilsiz numuneler X-Işını geçiren özel film içinde hazırlanarak ölçümü yapılır. Hassas sonuç için numunelerin yüzeyinin parlatılmış olması faydalıdır. Jeolojik numuneler için iki çeşit numune hazırlama mevcuttur. Numunenizin %80' i 45 mikron altına geçecek şekilde bağlayıcı katkı maddesi ile öğütüldükten sonra basınçla sıkıştırılarak elde edilen pürüssüz yüzeyden okuması yapılır. Numune hazırlama ücrete dahildir. Öğütülmüş ve kızdırma kaybı alınmış numuneniz Lityum tetraborate/metaborate ile Pt-Au kroze içinde füzyon yapılarak cam haline getirilir. Numune hazırlama ücrete dahil değildir. Program | | Kalibrasyon Aralığı | Yarı-Kantitatif | : | Na-U arası tüm elementlere ppm ve % mertebesine kalibrelidir. | Kantitatif Silikat Major | : | SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, CaO, Na2O, K2O, TiO2, P2O5, MnO, LOI | Kantitatif Silikat İz | : | Kalibrasyon aralığı için ekli dosyaya bakınız. |
|